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冷熱沖擊快速溫變箱為了仿真不同電子構(gòu)件，在實(shí)際使用環(huán)境中遭遇的溫度條件，改變環(huán)境溫差范圍及急促升降溫度改變，可以提供更為嚴(yán)格測(cè)試環(huán)境，縮短測(cè)試時(shí)間，降低測(cè)試費(fèi)用，但是必須要注意可能對(duì)材料測(cè)試造成額外的影響，產(chǎn)生非使用狀態(tài)的破壞試驗(yàn)。（需把握在失敗機(jī)制依然未受影響的條件下）RAMP試驗(yàn)條件標(biāo)示為：Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是

高低溫沖擊ESS試驗(yàn)箱賽思改變了傳統(tǒng)進(jìn)行溫度循環(huán)、高低溫沖擊（2 Zoon）、高低溫+常溫沖擊（3 Zoon）、應(yīng)力篩選ESS，至少需要購(gòu)買(mǎi)四臺(tái)設(shè)備的狀況。讓您擺脫以往需添購(gòu)很多種設(shè)備才能完成的試驗(yàn)，需耗費(fèi)許多添購(gòu)設(shè)備&占用空間的硬件成本， 一次解決您的需求，滿(mǎn)足不同產(chǎn)品不同試驗(yàn)的多樣性與多變性，提高機(jī)臺(tái)使用的稼動(dòng)率。并且不需再依不同待測(cè)品去耗費(fèi)時(shí)間手動(dòng)調(diào)整，我們的創(chuàng)新系統(tǒng)自動(dòng)幫您搞定，賽思秉持著

溫度快速?zèng)_擊試驗(yàn)箱可執(zhí)行AMP（等均溫變）、三箱沖擊（TC）、兩箱沖擊（TS）、高溫儲(chǔ)存、低溫儲(chǔ)存功能；等均溫速率可設(shè)定范圍5℃～30℃/min（40℃/min）；.滿(mǎn)足無(wú)鉛制程、無(wú)鉛焊錫、錫須（晶須）、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗(yàn)要求。

高低溫沖擊篩選試驗(yàn)箱集多種機(jī)型于一體的功能設(shè)計(jì)，一次性解決您的需求，滿(mǎn)足不同產(chǎn)品不同試驗(yàn)的多樣性與多變性，提高機(jī)臺(tái)的利用率和工作效率。應(yīng)力篩選復(fù)合試驗(yàn)箱適用于對(duì)整機(jī)產(chǎn)品、元器件、零部件、材料等進(jìn)行溫度儲(chǔ)存、慢速溫度循環(huán)3~5℃/min、應(yīng)力篩選5~15℃/min、快速溫變15~30℃/min、冷熱沖擊試驗(yàn)、檢驗(yàn)產(chǎn)品在試驗(yàn)過(guò)程中本身的適應(yīng)能力與特性是否改變。

溫度沖擊ESS試驗(yàn)箱為了仿真不同電子構(gòu)件，在實(shí)際使用環(huán)境中遭遇的溫度條件，改變環(huán)境溫差范圍及急促升降溫度改變，可以提供更為嚴(yán)格測(cè)試環(huán)境，縮短測(cè)試時(shí)間，降低測(cè)試費(fèi)用，但是必須要注意可能對(duì)材料測(cè)試造成額外的影響，產(chǎn)生非使用狀態(tài)的破壞試驗(yàn)。